Рентгеновский дифрактометр ARL X’TRA. Thermo Fisher Scientific.

Область применения.

Фундаментальны исследования: кристаллография, химия твердного тела, твердотельная кинетика….
Прикладные исследования: материаловедение, геология, авиация, исследования керамики…
Контроль технологических процессов: цементная отрасль, металлургия, керамическая промышленность

Функциональные особенности

Определение фазового состава пробы
Количественное определение известных фаз в смеси
Кристаллография, определение и уточнение структуры кристаллов
Проведение анализа в различных условиях: высокие и низкие температуры, высокое давление и/или активная газовая среда
Анализ поверхности и тонких пленок
Анализ текстуры и микронапряжений
Конструктивные особенности

Прибор ARL X’TRA сконструирован по принципу вертикальной — геометрии Брэгга — Брентано, обеспечивающей более удобную работу с пробами. Оптимальные параметры углового и энергетического разрешения без участия фильтров и монохроматоров достигаются благодаря уникальной технологии детекторов Пелтье. Данное решение увеличивает интенсивность дифракции и улучшает разрешение X’TRA, по сравнению с традиционными детекторами.

В зависимости от типа анализа или вида пробы, система легко реконфигурируется, используя такие специально подобранные принадлежности, как температурные камеры, опции формирования параллельного пучка, текстурный гониометр.

Оптимальный компромисс между интенсивностью и разрешением

Постоянная подстройка щелей дифрактометра ARL X’TRA позволяет оператору выбирать оптимальный баланс между интенсивностью и угловым разрешением. Возможность постоянной подстройки также позволяет оптимизировать установки щелей в зависимости от кристаллографии материалов.

Угловое разрешение < 0,04 легко измеряется в стандартной конфигурации, без специальных принадлежностей и при нормальной скорости сканирования (0,1 2.сек). Точный контроль радиальной и аксиальной коллимации пучка обеспечивается управляемыми микрометром щелями и сменными коллиматорными щелями. Точная регулировка «нулевой плоскости» Высота пробы в геометрии Брэгга — Брентано (стандартная) критична для точности получаемых данных и для достижения наилучшей интенсивности в конфигурации с параллельным пучком. Стандартный предметный столик дифрактометра ARL X’TRA оснащен микрометрической регулировкой высоты и положения. В зависимости от формы и размера проб микрометрическая регулировка применяется для точной настройки высоты пробы до 10мк. Точная микрометрическая настройка также позволяет выполнять цифровое слежение за регулировкой положения. Модульная конструкция столика Модульная конструкция позволяет пользователям менять столики без длительной процедуры настройки. Стандартный столик имеет два механических штыря, точно ориентированных на поступательные и поворотные перемещения столика относительно гониометра. Полная реконфигурация дифрактометра выполняется за несколько минут. Уникальный полупроводниковый Si (Li) детектор Пелтье Последняя версия: кремний-литиевый детектор с холодильником Пелтье. Детектор запаян в высоком вакууме пассивными геттерами для долговременного поддержания стабильного вакуума. 5-ти ступенчатая пирамида Пелтье позволяет охлаждать Si(Li) кристалл до −100 С и резко снижать внутренние шумы детектора до <0,1имп/сек. Благодаря такому низкому уровню шумов детектора стал возможен количественный фазовый анализ в диапазоне 0,1 весового % (в зависимости от пробы). Полупроводниковый детектор позволяет электронную селекцию фотонов на основе их энергий и устраняет необходимость в бета-фильтрах и монохроматорах дифрагированного пучка для удаления нежелательной интенсивности рентгеновского излучения источника (например, биений, тормозного излучения и/или флуоресценции пробы. Флуоресценция сигналов Fe и Cu очень высока, и при анализе Fe порошка стандартный сцинтилляционный детектор регистрирует около 5000 имп/сек флуоресценции Fe. Свой вклад в наиболее сильные пики дифракции также вносит К излучени. Это серьезная проблема традиционных детекторов, т.к. фильтр устраняющий К излучение, не разрешает флуоресценцию Fe. Избавиться от фоновой флуоресценции Fe можно только с помощью монохроматоров вторичного пучка, которые при этом значительно понижают общую интенсивность. Si(Li) детектор Пелтье без проблем удаляет эти интерференции. Энергетическое разрешение можно также использовать для настройки длин волн и, следовательно, энергии. Для упрощения дифрактограммы и минимизации наложений пиков можно, например, строить картину в режиме К вместо К , при котором появляется характеристический дуплет К 1/2. Оптическая схема позволяет одновременно устанавливать в отрегулированные положения парафокусирующую щелевую оптику и тонкопленочную коллиматорную оптику. Детектор монтируется на кронштейн с двумя штырями для его перемещения от одной оптики к другой. Такая конструкция позволяет менять оптическую конфигурацию менее чем за 5 минут без переналадки прибора. Кроме того, данный полупроводниковый детектор обеспечивает превосходное качество дифрактограммы в режимах парафокусирующей оптики и оптики параллельного пучка. Параболические зеркала также не влияют на разрешение и качество дифрактограммы. Количество испытаний прибора: 227

Календарь использования прибора:

< 2017 >
Сентябрь
Пн
Вт
Ср
Чт
Пт
Сб
Вс
Август
Август
Август
Август
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27
28
29
30
Октябрь